| 電源電壓 | 24V |
|---|---|
| 適用范圍 | 電子產品內部結構檢測 |
| 外形尺寸 | 180×195×56 |
| 顯示方式 | CMOS探測器 |
| 品牌 | CMOS平板探測器 |
| 型號 | 5863 |
工業平板探測器
CMOS技術參數
主要針對鞋廠、電子廠、玩具廠、食品廠等廠家、化妝品內部缺陷渣滓測試，生產中有鐵釘、斷針、鉚釘、其它金屬異物不慎脫落或掉入鞋底、鞋面、鞋邊、鞋殼、皮革制品的內的金屬異物檢測和箱包檢測。還可用于塑料、帆布包、食品等異物檢測主要針對電子元器件、封裝元器、半導體元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、集成電路、連接器、電熱絲、電路板、發熱管、發熱絲、快遞包裹,玩具、電子產品內部結構是否變形、缺焊、脫焊、空焊移位、鑄件、壓模鑄件、注塑件、氣孔、氣泡裂紋、偏移、礦山皮帶、鋼絲繩檢測拉絲、斷裂磨損等檢測。
| 類型 | CMOS |
| 有效面積 | 58.6mm*63mm |
| 像素矩陣 | 1172*1260 |
| 像素尺寸 | 50μm |
| 閃爍體 | CsI |
| 能量范圍 | 40kV~120kV |
| ROI | 支持自定義 |
| 觸發模式 | 內觸發/外觸發 |
| 空間分辨率 | ≥10.0lp/mm@1×1 |
| 圖像位數 | 16bit |
| **大幀速率 | >16fps @1x1，>32fps @2x2 |
| MTF | ≥60%@1lp/mm,≥30%@2lp/mm |
| 電源 | DC12V±10% |
| 功耗 | ≤10W |
| 使用環境 | +10oC~+40oC |
| 存儲環境 | -20oC~+60oC |
| 整機尺寸(W×L×H) | 180mm×193mm×56mm |
| 重量 | 2kg |
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上海先威光電科技有限公司